菲希尔 X-RAY

一一FISCHERSCOPE® X-RAY 系列产品X射线荧光镀层测厚仪、材料分析仪

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度、精度和可靠性的要求。目前，有超过10000台X射线仪器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大，可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。

X射线荧光分析法 (XRFA)：

能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能*胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。

X射线荧光法（XRFA）的优点：

• 快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）

• 分析固态，粉末或液态样品

• 有害物痕量分析

• 高精度和准确度

• 十分广泛的应用

• 准确测量基材是磁性和导电的材料

• 样品制备非常简单

• 测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品

• 无耗品，物超所值